米 n&k Technology Inc. の薄膜特性測定装置のデモンストレーションを、９日より稲畑産業大阪本社１階にて開催中です。３月５日までの間、トレンチ測定機能を搭載した300mm Wafer対応の装置が展示され実際にサンプルの測定をすることができます。

　n&kは薄膜特性測定装置を製造・販売するベンチャー企業で、半導体、フォトマスク、フラットパネル・ディスプレイ、データストレージなどを含むさまざまな製造業に製品を提供しています。n&kが提供するシステムは費用対効果が高い上、使いやすく、テーブルトップ・モデルから全自動の300mm生産ツールに至る幅広いモデルを揃えています。これらのシステムでは高い分解能による「真の測定」が可能で、膜厚、基板、そして構造に関し事実上どのような組み合わせでも特性測定が行えるほかn&kの製品は成膜装置等の他装置への組み込みにも最適です。詳しい情報はこちらへどうぞ。

　稲畑産業はn&kの日本での総代理店となっているほか、中国や台湾でのn&k装置の販売にも取り組んでいます。

n&k Technology Inc Website : http://www.nandk.com

お問い合わせ先と会場地図とは以下の通りです：

開催場所 稲畑産業大阪本社ビル１階
住所：大阪市中央区南船場一丁目15番14号
お問い合わせ 稲畑産業情報電子本部
テスト＆アセンブリーグループ
電 話：(06)6267-6326