稲畑産業は10月19日(水)～21日(金)の間、パシフィコ横浜で開催される「FPD International 2005」に出展します。
　会場ブースでは、基板欠陥検査に優れたSIMWOO INC.＜http://www.simwoo.com＞ のマクロ/ミクロ検査装置や、ランプ長寿命が特徴的なアイグラフィックス株式会社＜www.eyegraphics.co.jp＞の UVランプ / UV洗浄装置を紹介します。
　
　また、有機EL素子の膜厚測定に最適なn&k Technology,Inc.の光学式薄膜特性測定装置、マーチプラズマシステムズ＜http://www.marchplasma.com＞のプラズマ洗浄装置、株式会社ハイパー・フォトン・システム＜http://www.hyper-p.co.jp/＞のレーザーリペア装置、当社グループ企業の武蔵野ファインガラス株式会社＜http://www.mfg.jp/＞のガラスキャップも新製品を紹介しますので多数のご来場をお待ちしております。

日時 ： 2005年10月19日(水)～21日(金) 10:00～17:00
会場 ： パシフィコ横浜
ブースNo ： 733
出展内容 ：
1) SIMWOO INC. マクロ/ミクロ検査装置
2) アイグラフィックス(株) UVランプ / UV洗浄装置
3) n&k Technology Inc. 光学式薄膜特性測定装置
4) マーチプラズマシステムズ プラズマ洗浄装置
5) (株)ハイパー・フォトン・システム レーザーリペア装置
6) 武蔵野ファインガラス(株) ガラスキャップ

本件に関するお問い合わせ：
稲畑産業(株)　電子機能材本部　伊藤達也 （TEL：03-3639-6549）