稲畑産業は12月5日（水）から12月7日（金）の3日間、幕張メッセで開催されます『SEMICON Japan 2007』に出展し、各種半導体関連材料・装置の展示をします。この機会に稲畑産業ブースへお立ち寄り頂きますよう、心よりお待ち申し上げます。

期間： 2007年12月5日（水）～ 7日（金）
10：00～17：00
会場： 幕張メッセ（稲畑産業ブース：6A－301・10A－607）
SEMICON JAPAN 2007 オフィシャルサイト
http://www.semiconjapan.org/SCJAPAN2007-JP/index.htm

【展示商品】
● ウエハー工程関連　（6A－301）
・ VUV光学式薄膜測定装置 (METROSOL)
・ トレンチ深さ・CD、エピ膜ドープ濃度測定装置 (Advanced Metrology Systems, AMS)
・ 金属膜測定装置 (Advanced Metrology Systems, AMS)
・ マクロレビュー兼エッジ検査装置 (HSEB Dresden)　※実機展示
・ 観察用顕微鏡(カールツァイス光学系搭載) (HSEB Dresden)　※実機展示
・ マスクアライナー（露光装置） (大日本科研)
・ スピンコータデベロッパ (Scientific Value Solution, SVS)
・ ステッパー用ペデスタル (MECAL)
・ ガラス用レーザースクライビング装置 (レミ)
・ レーザーリペア及びレーザースクライビング装置 (ハイパーフォトンシステム)
・ In-situエピ膜測定ユニット (Optical Reference Systems, ORS)
・ SMIF-POD (E-SUN)
● テスティング・アセンブリー工程関連　（10A－607）
・ ハンドラ　　※実機展示 (SYNAXしなのエレクトロニクス)
・ 鉛フリー半田対応フラックス洗浄システム (化研テック(株))

お問合せ先：
稲畑産業株式会社　電子機能材本部　TEL：03-3639-6554
メールでのお問い合わせはこちら