稲畑産業は12月3日（水）から12月5日（金）の3日間、幕張メッセで開催されます『SEMICON Japan 2008』に出展し、各種半導体関連材料・装置の展示をします。この機会に稲畑産業ブースへお立ち寄り頂きますよう、心よりお待ち申し上げます。

期間： 2008年12月3日（水）～5日（金）
10：00～17：00
会場： 幕張メッセ（稲畑産業ブース：4B―406 ・ 10A―501）
SEMICON JAPAN 2008 オフィシャルサイト
http://www.semiconjapan.org/sj-jp/index.htm

【展示商品】
● ウエハー工程関連　（4B―406）
・ VUV光学式薄膜測定装置 (METROSOL)
・ トレンチ深さ・CD、エピ膜ドープ濃度測定装置 (Advanced Metrology Systems, AMS)
・ 金属膜測定装置 (Advanced Metrology Systems, AMS)
・ マクロレビュー兼エッジ検査装置 (HSEB Dresden)
・ 観察用顕微鏡(カールツァイス光学系搭載) (HSEB Dresden)
・ マスクアライナー（露光装置） ((株)大日本科研)
・ スピンコータデベロッパ (Scientific Value Solution, SVS)
・ 半導体製造装置用ペデスタル（嫌振架台）、
FAB床振動モニター (MECAL)
・ In-situエピ膜測定 (Optical Reference Systems, ORS)
・ 赤外線顕微鏡 （ディスクテック(株)）
・ 有機薄膜製膜装置 （Applied Microstructures）
● テスティング・アセンブリー工程関連　（10A―501）
・ ハンドラ　　※実機展示 (SYNAX　(株)しなのエレクトロニクス)
・ 鉛フリー半田対応フラックス洗浄システム (化研テック(株))
・ 非接触高速3D表面形状解析システム （三谷商事(株)ビジュアルシステム部）
・ N2循環精製装置 （(株)FEBACS）
・ ウエハエッジプロファイル測定装置 (大倉インダストリー(株))

お問合せ先：
稲畑産業株式会社　電子機能材本部　TEL：03-3639-6549
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