2010年12月15日
お知らせ
SEMICON JAPAN 2010に出展
稲畑産業は12月1日(水)から3日(金)の3日間、千葉県の幕張メッセにて開催された『SEMICON Japan 2010』に出展しました。同展示会は世界最大級の半導体製造装置・材料の国際展示会で、本年は世界18の国・地域から900社以上が出展、延べ約6万6千人が訪れました。当社ブースではKLA-Tencor社製の外観検査装置などに注目が集まりました。
期間:2010年12月1日(水)~3日(金)
10:00~17:00
会場: 幕張メッセ (稲畑産業ブース:8B-105)
SEMICON JAPAN 2010 オフィシャルサイト
http://www.semiconjapan.org/ja/index.htm
[展示商品]
(リンクをクリックすると詳細情報がご覧いただけます。)
・ハンドラ装置 (㈱しなのエレクトロニクス)
・アンダーフィル材 (稲畑産業㈱)
・コンポーネント外観検査装置 (KLA-Tencor)
・ウェハー外観検査装置 (KLA-Tencor)
・IR顕微鏡/検査装置 (KLA-Tencor)
・機能性薄膜成膜装置 (AMST)
・放熱シート (アロン化成㈱)
・ペリクル (Micro Lithography, Inc.(MLI))
お問合せ先:
稲畑産業株式会社 電子機能材本部 TEL:03-3639-6549
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