稲畑産業は12月1日（水）から3日（金）の3日間、千葉県の幕張メッセにて開催された『SEMICON Japan 2010』に出展しました。同展示会は世界最大級の半導体製造装置・材料の国際展示会で、本年は世界18の国・地域から900社以上が出展、延べ約6万6千人が訪れました。当社ブースではKLA-Tencor社製の外観検査装置などに注目が集まりました。

期間：2010年12月1日（水）～3日（金）
　　　　10：00～17：00
会場：　幕張メッセ　　（稲畑産業ブース：8B－105）
SEMICON JAPAN 2010 オフィシャルサイト
http://www.semiconjapan.org/ja/index.htm

[展示商品]
（リンクをクリックすると詳細情報がご覧いただけます。）
・ハンドラ装置　　　　　　　　　　　　　　　(㈱しなのエレクトロニクス)
・アンダーフィル材 　　　　　　　　　　　　(稲畑産業㈱)
・コンポーネント外観検査装置 　　　　　(KLA-Tencor)
・ウェハー外観検査装置　　　　　　　　　(KLA-Tencor)
・ＩR顕微鏡/検査装置 　　　　　　　　　　　(KLA-Tencor)
・機能性薄膜成膜装置　　　　　　　　　　(AMST)
・放熱シート　　　　　　　　　　　　　　　　　(アロン化成㈱)
・ペリクル 　　　　　　　　　　　　　　　　　　(Micro Lithography, Inc.(MLI))

お問合せ先：
稲畑産業株式会社　電子機能材本部　TEL：03-3639-6549
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