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電子機能材本部

半導体関連製品

ICテスト用ハンドラー((株)しなのエレクトロニクス)
ICハンドラーはIC製造の後工程における最終工程で、パッケージ化されたICをテストする工程で使用され、ICテスターにICをセットし、試験結果により分類して配置する装置です。((株)しなのエレクトロニクス)
GaN系LED基板の後工程加工、試験、分類受託
台湾Youngtek社におけるLEDチップのテスト、レーザースクライビング、ソーティング、及びソーイングの受託サービスを提供します。

>>詳細はこちら(PDF)(152KB)
IC自動外観検査装置(KLA-Tencor社)
パッケージ化されたICの外観検査装置です。
高速・高精度・高稼働率の検査を実現しつつ、ユーザーフレンドリーな設計となっています。 世界No.1のシェアによる豊富な経験から、お客様のニーズにあった測定方法のご提案が可能です。


>>KLA Tencor社製品のお取引に関してはこちらの約款をご覧ください。(PDF)(274KB)

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